在這篇應用報告中，使用丹東百特儀器公司的BeNano 180 Zeta Max納米粒度及Zeta電位分析儀檢測了多種粒徑混合的樣品的粒度信息。

原理

BeNano 180 Zeta Max納米粒度及Zeta電位分析儀基于透射光路檢測樣品的透射光強度，然后基于斯托克斯方程

計算體系的粒徑和粒徑分布信息，測試需要對應溫度下分散介質(zhì)的折射率、密度和粘度，對應溫度下顆粒物的折射率和密度，以及樣品體積。

實驗

實驗采用已知粒徑的多個PMMA球進行，PMMA球粒徑分別為5.4μm、9.5μm、14.9μm和18.5μm，將樣品混合配置成混合液，混合的具體信息如下：

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將樣品按一定比例混合，放入光程為10mm的方形玻璃樣品池中進行測試。測試前恒溫120秒，使樣品達到平衡溫度，然后用移液槍將樣品混合均勻，開始收集信號。

結(jié)果分析和結(jié)論

通過圖1-4的沉降信號和對應的粒徑分布曲線可以看出，若兩個粒徑的樣品混合，其沉降原始信號中有兩個上升平臺；若三個粒徑的樣品混合，其沉降原始信號中有三個上升平臺信號。

從粒徑分布圖中可看出，均能將混合樣品的粒徑峰分辨出來，其峰值粒徑列于下表：

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通過表中所列的峰值粒徑可以看出，峰值粒徑與標稱粒徑一致性較好。由樣品的混合粒徑比例可以得到，在粒徑1:1.5倍條件下，BeNano沉降法可以將不同的組分進行明顯區(qū)分。